027-81526660

低氣壓試驗

低氣壓試驗

低氣壓試驗也(yě)被稱爲(wéi / wèi)高空實驗,是(shì)指産品經受負壓狀态下的(de)産品和(hé / huò)包裝穩定性能,爲(wéi / wèi)了(le/liǎo)驗證産品在(zài)高海拔地(dì / de)區儲存,運輸或者使用時(shí)是(shì)否會受影響。比如我國(guó)西藏地(dì / de)區平均海拔4000米以(yǐ)上(shàng),大(dà)氣壓在(zài)56Kpa以(yǐ)下。如果不(bù)進行低氣壓試驗,很可能産品使用上(shàng)會受影響,或者功能、壽命等不(bù)如我們正常海拔使用的(de)産品。

在(zài)線聯系

服務能力

武漢金測實驗室擁有密閉性強的(de)低氣壓試驗箱,可根據客戶需求,将箱内氣壓降低到(dào)有關标準規定的(de)值,并保持規定持續時(shí)間及數據穩定。


适用範圍

可爲(wéi / wèi)電子(zǐ)電器、儀器儀表、汽車電子(zǐ)、軌道(dào)交通、航空航天等産品的(de)元器件、結構件、組件以(yǐ)及整機等開展溫濕度環境試驗。


相關資質

CNAS/CMA


設備能力

溫度範圍:-40~150℃;
壓力範圍:海拔10~100kpa;
使用環境周溫:+5~+30℃之(zhī)間;
内箱尺寸:1000*1000*1000mm


測試标準

武漢金測實驗室可執行多項低氣壓試驗标準方法,現列舉一(yī / yì /yí)些常用的(de)相關試驗方法如下:
GB/T 2421.1-2008《電工電子(zǐ)産品環境試驗 概述和(hé / huò)指南》
GB/T 2423.21-2008《電工電子(zǐ)産品環境試程 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓》
GB/T 2423.25-2008《電工電子(zǐ)産品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗》
GB/T 2423.27-2008《電工電子(zǐ)産品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗》
GB/T 2424.15-2008《電工電子(zǐ)産品環境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導則》
GJB 360B-2009 《電子(zǐ)及電氣元件試驗方法 方法105  低氣壓試驗》
GJB 150.2A-2009 《軍用裝備實驗室環境試驗方法 第2部分:低氣壓(高度)試驗 》
MIL-STD-883-1:2019 《微電路的(de)環境試驗 低氣壓》
ASTM D6653 (2021) 《低氣壓試驗》


試驗照片


  • 低氣壓試驗-1.jpg

    試驗設備照片

  • 低氣壓試驗-2.jpg

    試驗過程照片

  • 低氣壓試驗-3.jpg

    試驗曲線

上(shàng)一(yī / yì /yí)篇:雙85試驗

下一(yī / yì /yí)篇:鹽霧腐蝕試驗

案例推薦

首頁 服務項目 電話咨詢 在(zài)線咨詢

新增檢測項目

冰水沖擊試驗 車燈複合零氣試驗

報告查詢 在(zài)線咨詢 微信咨詢
微信
TOP